A tese de doutorado de Rafael Budim Schvittz, desenvolvida no Programa de Pós-graduação em Computação da UFPel, venceu o concurso de teses no 21st IEEE Latin-American Test Symposium, o maior e mais importante evento na área de Teste de Circuitos Integrados na América Latina. O trabalho intitulado “Susceptibility Analysis of Logic Gates to Improve the Accuracy of Circuit Reliability Estimation”, orientado pelos professores Leomar Soares da Rosa Júnior (UFPel) e Paulo Francisco Butzen (UFRGS), concorreu com diversos trabalhos de doutorado desenvolvidos no exterior. A banca […]